FIT-Conference Hub
کنفرانسها
ژورنالها
بصریسازی
چتبات
جدید
پشتیبانی
انتشار
پوسته
فارسی
کنفرانسها
ژورنالها
بصریسازی
چتبات
جدید
پشتیبانی
انتشار
اعلانها
علامتگذاری همه به عنوان خواندهشده
هیچ اعلان جدیدی وجود ندارد.
مشاهده همه
کلمه کلیدی
شروع:
پایان:
نوع
مکان
جستجو
پاک کردن
پنهان کردن گزینههای جستجوی پیشرفته
?
تاریخ ارسال مقاله:
رتبه:
همه رتبهها
A*
A
B
C
Unranked
Other
منبع:
همه منابع
ناشر:
موضوعات:
Test and Reliability for Analog
×
حوزه پژوهشی:
نتایج کنفرانسها (1)
مرتبسازی بر اساس:
تاریخ ارسال مقاله
Conference Date
رتبه
نوع
Default
Relevant
Descending
Ascending
رویدادها در هر صفحه:
4
8
12
20
50
100
IEEE European Test Symposium (ETS)
Rank: TBR
Offline
Chania, Greece
May 25, 2026 - May 29, 2026
Dependable AI and AI for Testing
Functional Safety
Fault Tolerance and Reliability
+13 بیشتر
